QNix4200分體式涂層測(cè)厚儀隆重上市
QNix4200為目前*的進(jìn)口磁性測(cè)厚儀，原型號(hào)均為一體式，為滿足客戶在臺(tái)階、狹小及凹槽等復(fù)雜區(qū)域測(cè)量，德國尼克斯特推出QNix4200分體式涂層測(cè)厚儀。
QNix4200分體式涂層測(cè)厚儀具體信息如下：
| 型號(hào) | 技術(shù)參數(shù) | 市場(chǎng)價(jià)格 | |
| QNix4200 | 一體化 Fe鐵基探頭0-3000um | 5,300 | * |
| QNix44200P | 分體，F(xiàn)e鐵基探頭0-3000um | 5,900 | |
| QNix44200/5 | 一體化 Fe鐵基探頭0-5000um | 6,300 | |
| QNix44200P5 | 分體，F(xiàn)e鐵基探頭0-5000um | 6,900 |
目前偉峰儀器QNix4200涂層測(cè)厚儀*，以上均為市場(chǎng)價(jià)，詳情請(qǐng)咨詢
深圳市偉峰儀器儀表有限公司
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